超聲波掃描顯微(wēi)鏡是(shì)将光(guāng)學顯微(wēi)鏡技(jì)術(shù)、光(guāng)電(diàn)轉換技(jì)術(shù)、計(jì)算(suàn)λ機(jī)圖像處理(lǐ)技(jì)術(shù)完美(měi)地(dì)結合在一(yī)起而開(kāi)發研制(zhì)成的↔(de)高(gāo)科(kē)技(jì)産品，可(kě)以在計(jì)算(suàn)機(jī)上(shàng)很(hěn)方便地(dì)觀察金(jīn)相(xiàng)圖像，從(€cóng)而對(duì)金(jīn)相(xiàng)圖譜進行(xíng)分(fēn)析，評級等以及對(duì)圖片進行(xíng)輸出、打印。 超聲波掃描顯微(wēi)鏡主要(yào)由光(guānσg)學系統、照(zhào)明(míng)系統、機(jī)械系統、附件(jiàn)裝置（包括攝影(yǐng)或其它如(rú)顯微(wēi)硬度等裝置）組成。根據金(jīn)屬樣品表面上(shàng)不(bù)同組織組成物(wù)的(de)光(guāng)反射特征，用(yòng)顯微(wēi)鏡在可(kě)見(jiàn)光(guānΩg)範圍內(nèi)對(duì)這(zhè)些(xiē)組織組成物(wù)進行(xíng)光(guāng)學研究并定性和(hé)↑定量描述。
超聲波掃描顯微(wēi)鏡是(shì)專門(mén)用(yòng)于觀察金(jīn)屬和(hé)礦物(wù)等不(bù)透明(¥míng)物(wù)體(tǐ)金(jīn)相(xiàng)組織的(de)顯微(wēi)鏡。這(zhè)些(xiē)不(bù)透明(m&íng)物(wù)體(tǐ)無法在普通(tōng)的(de)透射光(guāng)顯微(wēi)鏡中觀察，因此金(jīn)相(xiàng)↔和(hé)普通(tōng)顯微(wēi)鏡的(de)主要(yào)差别在于前者以反射光(guāng)，而後者以透射光(guāng)照(zhào)明(míng)。在金(jīn)相(xiàng)顯←微(wēi)鏡中照(zhào)明(míng)光(guāng)束從(cóng)物(wù)鏡方向射到(dào)被觀察物(wù)體(tǐ)表≠面，被物(wù)面反射後再返回物(wù)鏡成像。這(zhè)種反射照(zhào)明(míng)方式也(yě)廣泛用(yòng)于集成電(diàn)路(lù)矽片的₩(de)檢測工(gōng)作(zuò)。
超聲波掃描顯微(wēi)鏡是(shì)用(yòng)可(kě)見(jiàn)光(guāng)作(zuò)為(wèi)照(zhào )明(míng)源的(de)一(yī)種顯微(wēi)鏡可(kě)分(fēn)為(wèi)正立式和(hé)倒置式兩種。兩者的(de)區(qū)别為(wèi)：
正立式顯微(wēi)鏡：光(guāng)路(lù)短(duǎn)，光(guāng)路(lù)設計≤(jì)簡單，光(guāng)損少(shǎo)，制(zhì)樣要(yào)求高(gāo)，樣品高(gāo)度有(yǒu)要(yào)求，方便多(duō)視(shì)場(chǎng)連續觀察，鏡∏頭不(bù)易落灰易維護。
倒置式顯微(wēi)鏡：光(guāng)路(lù)長(cháng)，光(guāng)損較大(dà)，光(guāng)路(lù)設計(jì)較複雜(zá)，制(zhì)樣要(yào)求較低(∏dī)，對(duì)樣品高(gāo)低(dī)無要(yào)求，檢測方便快(kuài)速，不(bù)适合多(duō)視(£shì)場(chǎng)分(fēn)析，同等配置下(xià)倒置顯微(wēi)鏡的(de)價格要(yào)高(gāo)于正立式顯微(wēi)鏡。
