計(jì)算(suàn)機(jī)斷層掃描系統檢測主要(yào)用(yòng)于檢測高(gāo)密度和(hé)大(dà)尺寸物(wù)體(tǐ)，應用(yòng)高(gāo)能(n$éng)量X射線探，需有(yǒu)更高(gāo)的(de)系統分(fēn)辨力等等。目前計(jì)算(suàn)機(jī)斷層掃描系統技(jì)術(shù)的(de)應用(≠yòng)十分(fēn)廣泛；在汽車(chē)等制(zhì)造領域，可(kě)以用(yòng)于零部件(jiàn)的(de)缺陷檢測、質量控制(zhì)和(hé)實效分(fēn)析；在電(d÷iàn)子(zǐ)行(xíng)業(yè)，可(kě)以用(yòng)于芯片封裝多(duō)餘物(wù)檢測、封裝工(gōng)藝改進和(hé)逆向設計(jì);在航空(kōng)航天領域可(kě)用(yòng)于産品質量控制(zhì)、裝配工(gōng)藝分(fēn)析；總之，凡是(shì)需要(yào)觀測樣品內(nè₽i)部結構的(de)場(chǎng)合都(dōu)能(néng)用(yòng)到(dào)計(jì)算(suàn)φ機(jī)斷層掃描系統，是(shì)一(yī)種十分(fēn)理(lǐ)想的(de)無損檢測手段。
計(jì)算(suàn)機(jī)斷層掃描系統常用(yòng)的(de)CT掃描模式有(yǒu)II代掃描、III代掃描。III代掃描具有(y∞ǒu)更高(gāo)的(de)效率，但(dàn)是(shì)容易由于校(xiào)正方法不(bù)佳而導緻環狀僞影(yǐng)（所以減弱或消除環狀僞影(yǐn≈g)是(shì)體(tǐ)現(xiàn)CT系統制(zhì)造商技(jì)術(shù)水(shuǐ)平的(de)主要(yào)內(nèi)容之一(yī)）；II代掃描效率大(d∏à)約是(shì)III代掃描的(de)1/10—1/5，但(dàn)其對(duì)大(dà♥)回轉直徑工(gōng)件(jiàn)檢測有(yǒu)益。此外(wài)CT系統通(tōng)常會(huì)具備數(shù)字射線檢測成像（DR）功能(nπéng)。
計(jì)算(suàn)機(jī)斷層掃描系統系統的(de)核心性能(néng)指标包括：
1、空(kōng)間(jiān)分(fēn)辨率：從(cóng)CT圖像中能(néng)夠辨别最小(xiǎo)結構細節的β(de)能(néng)力。
2、密度分(fēn)辨率：從(cóng)CT圖像中能(néng)夠分(fēn)辨出最小(xiǎo)密度差異的©(de)能(néng)力（通(tōng)常跟特征區(qū)域大(dà)小(xiǎo)結合在一(yī)起₹評定）。
空(kōng)間(jiān)分(fēn)辨率與密度分(fēn)辨率的(de)關系。在輻射劑量一(yī)定的(de)情況&下(xià)，空(kōng)間(jiān)分(fēn)辨率與密度分(fēn)辨率是(shì)相(xiàng)互矛盾的(de)兩個(gè)指标。提高(gāo)空>(kōng)間(jiān)分(fēn)辨率會(huì)降低(dī)密度分(fēn)辨率，反之亦然。
對(duì)于普通(tōng)的(de)計(jì)算(suàn)機(jī)斷層掃描系統系統，其核心性能(néng)指标隻有(yǒu)空(kōng)間(jiān)分(fēn)辨率和(±hé)密度分(fēn)辨率；而對(duì)于一(yī)台高(gāo)精度測量計(jì)算(suàn)機(jī)斷層掃描系統系統而言，除了(le)上(shàng)λ述兩個(gè)核心性能(néng)指标外(wài)，還(hái)有(yǒu)另外(wài)兩個(gè)核心性能(néng)指标：
2、幾何測量精度：在計(jì)算(suàn)機(jī)斷層掃描系統圖像上(shàng)測得(de)某對(duì)象的(de)幾何♠尺寸與該對(duì)象真實尺寸之間(jiān)的(de)絕對(duì)誤差。
2、密度測量精度：在計(jì)算(suàn)機(jī)斷層掃描系統圖像上(shàng)測得(de)某對(duì)象的(de)密度值與該對(duì)象真實密度值之間(jiān)的(de)相(xiàng)對(duì)誤差。
