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利用(yòng)水(shuǐ)浸超聲C掃描系統檢測高(gāo)純鋁靶材
客戶送來(lái)鋁靶材總計(jì)7塊，試塊編号如(rú)下(xià)表：
編号 | 試樣編号 | 熱(rè)處理(lǐ)方式 | 長(cháng)（mm） | 寬（mm） | 厚度（mm） |
1 | 140227-101 | 鑄件(jiàn) | 558 | 271 | 25 |
2 | 151002001-1 | 鑄件(jiàn) | 572 | 269 | 18.5 |
3 | 150902044-631 | 退火(huǒ) | 300 | 140 | 18.5 |
4 | 150902045-67 | 軋制(zhì) | 300 | 135 | 19 |
5 | 140301-67 | 軋制(zhì) | 300 | 135 | 19 |
6 | 140301-641 | 退火(huǒ) | 308 | 140 | 20 |
7 | 150902044-57 | 軋制(zhì) | 300 | 135 | 19 |
利用(yòng)自(zì)動超聲波系統針對(duì)工(gōng)件(jiàn)內(nèi)部的(d&e)宏觀缺陷進行(xíng)A/B/C-掃描檢測，并統計(jì)計(jì)算(suàn)缺陷大(dà)小(xiǎo)、位置、面積。
檢測條件(jiàn)：耦合劑為(wèi)潔淨水(shuǐ)，無氣泡、無灰塵、吳雜(zá)質，水(shuǐ)溫大(dà)約控制(zhì)在10℃-35℃
檢測坐(zuò)标：說(shuō)明(míng)：祥見(jiàn)設置
水(shuǐ)平台及運行(xíng)信号校(xiào)準：利用(yòng)水(shuǐ)平尺對(duì)水(shuǐ)槽進行(xíng)水(shuǐ)平測量，來(lái)校(xiào¥)準地(dì)面水(shuǐ)平度。整體(tǐ)誤差不(bù)得(de)大(dà)于0.02mm。
運行(xíng)信号校(xiào)準：将探頭置于工(gōng)件(jiàn)近(jìn)端，然後将地(dì)面信号調到(dào)滿屏的(de)50%，然後運行(xíng)÷到(dào)遠(yuǎn)端，此時(shí)信号應在42%-60%範圍內(nèi)。
項目名稱 | 參數(shù) | 備注 |
傳感器(qì) | 傳感器(qì)A型：頻(pín)率10MHz，焦距1.5in，晶片尺寸0.5in |
|
通(tōng)道(dào)的(de)數(shù)字化(huà)設置 |
| |
A/D 延遲(us) | 56.613 |
|
A/D 寬度(us) | 10.925 |
|
A/D 增益(dB) | 29.2 |
|
靈敏度 | Ø0.4mm平底孔 底波80%+2dB表面補償 |
|
采樣率選擇 | 100 |
|
AD設置 |
| |
低(dī)通(tōng)濾波器(qì) | 17.5 |
|
高(gāo)通(tōng)濾波器(qì) | 4 |
|
脈沖/接收阻尼選擇 | 低(dī)阻抗 |
|
脈沖/接收頻(pín)率(MHz) | 10MHz |
|
脈沖/接收能(néng)量OZ | 2000 OZ |
|
門(mén)檻設置 |
| |
同步模式 |
| |
同步門(mén)檻 | 49.6 |
|
檢測門(mén)檻 | 0.617 |
|
開(kāi)始(us) | 2.299 |
|
寬度(us) | 45.6 |
|
C掃描運動設置 |
| |
掃描範圍 | / |
|
掃描速度 | / |
|
掃查分(fēn)辨率 | 0.5 |
|
表二 調試參數(shù)設置表
|
UPK-T48HS |
安賽斯（中國(guó)）有(yǒu)限公司（ANALYSIS）提供的(de)多(duō)軸自(zì)動超ε聲波水(shuǐ)浸掃描系統UPK-T48HS。
傳感器(qì)是(shì)10MHz ，焦距為(wèi)1.5in的(de)聚焦探頭。
10MHz 1.5in焦距傳感器(qì) |
探頭頻(pín)譜圖 |
樣品
151002001-1
圖一(yī) 波形圖像及門(mén)檻設置
（門(mén)一(yī) 監控底波變化(huà) / 門(mén)二 監控缺陷波）
圖二 Tube-B掃描結果圖
圖三 缺陷監控成像圖
樣品150902045-67
圖五 波形圖像及門(mén)檻設置
（門(mén)一(yī) 監控底波變化(huà) / 門(mén)二 監控缺陷波）
圖六 典型缺陷波形圖
圖七 缺陷監控掃描圖
針對(duì)樣品150902045-67進行(xíng)設置設定缺陷波幅值高(gāo)于40%作(zuò)為(wèi)統計(jì)阈值，UTWIN軟件(jiàn)♥可(kě)針對(duì)缺陷進行(xíng)自(zì)動統計(jì)計(jì)算(suàn)分(fēn)析，且列表。
列表如(rú)下(xià)：
圖八 軟件(jiàn)自(zì)動标記缺陷
聚類 | 位置 |
|
| 幅度 |
|
| 面積(mm*mm)(%) |
| X(mm) | Y(mm) | 厚度(mm) | 小(xiǎo)(%) | 大(dà)(%) | 平均(%) |
|
#1 | 176.315 | 52.056 | 16.484 | 47.6 | 92.6 | 68.7 | 6.75(0.02%) |
#2 | 93.500 | 91.000 | 10.747 | 48.1 | 83.5 | 66.5 | 4(0.01%) |
#3 | 317.000 | 58.500 | 8.166 | 52.7 | 89.2 | 69.2 | 2.75(0.01%) |
#4 | 91.125 | 27.313 | 11.219 | 50.9 | 72.7 | 61.1 | 2(0.00%) |
#5 | 200.500 | 57.750 | 8.569 | 56.4 | 85.6 | 67.5 | 1.5(0.00%) |
#6 | 31.500 | 12.100 | 4.290 | 52.5 | 69.2 | 60.3 | 1.25(0.00%) |
#7 | 120.600 | 57.800 | 9.334 | 50.0 | 82.4 | 63.7 | 1.25(0.00%) |
#8 | 92.500 | 27.000 | 11.096 | 47.5 | 64.7 | 54.5 | 0.75(0.00%) |
#9 | 267.500 | 41.000 | 4.616 | 51.3 | 61.7 | 57.1 | 0.75(0.00%) |
#10 | 251.667 | 52.667 | 6.268 | 48.6 | 92.5 | 69.3 | 0.75(0.00%) |
#11 | 240.000 | 60.500 | 8.618 | 48.2 | 75.4 | 57.3 | 0.75(0.00%) |
#12 | 85.833 | 136.167 | 2.905 | 54.0 | 61.0 | 56.8 | 0.75(0.00%) |
#13 | 237.750 | 15.500 | 4.449 | 60.7 | 70.4 | 65.6 | 0.5(0.00%) |
表三 150902045-67樣品缺陷自(zì)動統計(jì)列表
樣品140301-641
圖九 波形圖像及門(mén)檻設置
（門(mén)一(yī) 監控底波變化(huà) / 門(mén)二 監控缺陷波）
圖十 典型缺陷波形圖
圖十一(yī) 缺陷監控掃描圖
針對(duì)樣品140301-641進行(xíng)設置設定缺陷波幅值高(gāo)于40%作(zuò)為(wèi)統計β(jì)阈值，UTWIN軟件(jiàn)可(kě)針對(duì)缺陷進行(xíng)自(zì)動統計(jì)計(jì)算(suàn)分(fēn)析，且列表。列表如(rú)下(xià)：
圖十二 軟件(jiàn)自(zì)動标記缺陷
聚類 | 位置 |
|
| 幅度 |
|
| 面積(mm*mm)(%) |
| X(mm) | Y(mm) | 厚度(mm) | 小(xiǎo)(%) | 大(dà)(%) | 平均(%) |
|
#1 | 101.500 | 142.000 | 4.154 | 47.5 | 97.8 | 67.5 | 11(0.02%) |
#2 | 72.000 | 154.500 | 4.839 | 49.9 | 95.9 | 71.4 | 7.75(0.02%) |
#3 | 219.500 | 133.500 | 5.062 | 47.7 | 95.8 | 65.2 | 5.25(0.01%) |
#4 | 62.211 | 100.947 | 9.878 | 47.8 | 86.5 | 63.8 | 4.75(0.01%) |
#5 | 294.500 | 131.000 | 4.081 | 48.9 | 96.4 | 71.8 | 4.75(0.01%) |
#6 | 32.765 | 67.529 | 5.612 | 47.6 | 96.7 | 68.6 | 4.25(0.01%) |
#7 | 88.219 | 46.031 | 4.093 | 49.5 | 97.5 | 71.0 | 4(0.01%) |
#8 | 93.767 | 45.400 | 4.159 | 51.6 | 94.4 | 77.3 | 3.75(0.01%) |
#9 | 171.250 | 97.679 | 7.181 | 47.6 | 96.7 | 68.7 | 3.5(0.01%) |
#10 | 50.500 | 137.500 | 5.207 | 47.5 | 94.1 | 63.0 | 3.25(0.01%) |
#11 | 88.500 | 139.500 | 5.296 | 51.0 | 92.2 | 63.8 | 3.25(0.01%) |
#12 | 111.000 | 149.000 | 5.261 | 48.6 | 95.8 | 68.1 | 3.25(0.01%) |
#13 | 265.500 | 132.000 | 3.713 | 48.4 | 96.0 | 71.0 | 2.75(0.01%) |
#14 | 102.273 | 137.636 | 4.380 | 47.5 | 97.6 | 65.9 | 2.75(0.01%) |
#15 | 201.500 | 138.500 | 4.136 | 47.6 | 83.9 | 64.1 | 2.75(0.01%) |
#16 | 73.000 | 143.500 | 4.619 | 48.9 | 85.1 | 60.1 | 2.75(0.01%) |
#17 | 67.500 | 146.000 | 4.718 | 49.2 | 73.7 | 55.6 | 2.75(0.01%) |
#18 | 196.000 | 151.000 | 5.619 | 49.2 | 96.1 | 68.9 | 2.75(0.01%) |
#19 | 207.500 | 151.500 | 4.123 | 48.7 | 84.3 | 60.2 | 2.75(0.01%) |
#20 | 105.000 | 86.000 | 3.418 | 50.9 | 97.0 | 69.0 | 2.75(0.01%) |
#21 | 245.500 | 132.000 | 4.302 | 56.6 | 97.5 | 75.6 | 2.5(0.01%) |
#22 | 199.950 | 24.850 | 4.343 | 48.1 | 87.4 | 67.3 | 2.5(0.01%) |
#23 | 90.350 | 105.550 | 4.252 | 48.3 | 88.8 | 64.7 | 2.5(0.01%) |
#24 | 101.500 | 72.500 | 6.821 | 48.7 | 97.2 | 66.9 | 2.5(0.01%) |
#25 | 176.611 | 23.944 | 5.727 | 59.5 | 87.0 | 71.7 | 2.25(0.00%) |
#26 | 204.000 | 114.500 | 4.104 | 48.7 | 93.3 | 66.7 | 2.25(0.00%) |
#27 | 120.722 | 151.333 | 5.920 | 47.8 | 96.3 | 60.2 | 2.25(0.00%) |
#28 | 110.000 | 130.000 | 4.560 | 50.1 | 91.0 | 70.1 | 2.25(0.00%) |
#29 | 98.167 | 130.278 | 5.753 | 48.0 | 80.3 | 63.6 | 2.25(0.00%) |
#30 | 89.500 | 136.500 | 4.432 | 49.3 | 88.4 | 65.1 | 2(0.00%) |
#31 | 56.000 | 149.000 | 5.229 | 52.5 | 87.7 | 66.4 | 2(0.00%) |
#32 | 255.000 | 56.500 | 4.163 | 47.7 | 71.5 | 60.6 | 2(0.00%) |
#33 | 261.500 | 122.000 | 3.297 | 57.1 | 96.8 | 70.1 | 2(0.00%) |
#34 | 241.500 | 126.000 | 5.174 | 48.2 | 81.1 | 61.2 | 2(0.00%) |
表四 140301-641樣品缺陷自(zì)動統計(jì)列表
（如(rú)需了(le)解其他(tā)幾個(gè)樣品的(de)分(fēn)析結果，請(qǐng)聯系安賽斯（中國(guó)）有(yǒu)限公司工(g₩ōng)作(zuò)人(rén)員(yuán)。400 8816 976）
針對(duì)XXX來(lái)樣，總計(jì)7塊。其中，編号150902045-67；編号140301-67≈；編号14031-641；編号150902044-631樣品中出現(xiàn)超過标準要(yào)求的(de)缺陷，具體(tǐ)參數(s§hù)詳見(jiàn)列表。
其中，編号140227-101和(hé)編号151002001-1的(de)掃描結果中，觀察缺陷波成像，未見(jiàn)明(míng)顯超出标準的(de)缺陷，但(dàn)✔是(shì)觀察底波成像，發現(xiàn)兩塊樣品的(de)底波都(dōu)存在局部的(de)大(dà)幅度衰減，通(tōng)過底波衰減形成的(de)圖像，具©有(yǒu)典型的(de)規律化(huà)圖像。
此類典型的(de)圖像，需要(yào)進一(yī)步的(de)金(jīn)相(xiàng)觀察。是(shì)否判斷為(wèi)宏觀的(de)缺陷，需要(yà o)進一(yī)步技(jì)術(shù)驗證。
據了(le)解，CT技(jì)術(shù)并未作(zuò)出此類晶粒組織的(de)圖像。
|
|
C掃描底波衰減成像圖 | 不(bù)同晶粒的(de)純鋁金(jīn)相(xiàng)圖（引用(yòng)自(zì)參考資料） |
圖二十七 掃描對(duì)比圖 | |
郵箱：info@analysis-tech.com
地(dì)址：北(běi)京市(shì)海(hǎi)澱區(qū)建材城(chéng)中路(lù)3号樓程遠(yuǎn≈)大(dà)廈B座606
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