X射線檢測儀是(shì)利用(yòng)X射線的(de)穿透能(néng)力，在工(gōng)業(yè)上(shàng)一(yī)般用(yòng)于檢測一(yī)些(xiē)眼睛所看(kàn)不(♣bù)到(dào)的(de)物(wù)品內(nèi)部傷，斷路(lù)或電(diàn)路(lù)的(de)短(duǎn)路(lù)等。
比如(rú)說(shuō)檢測多(duō)層基闆內(nèi)部電(diàn)路(lù)有(yǒu)無短(duǎn)路(lù)，X射線可(kě)心穿透基闆的(de)表面看(kàn)到(dà o)基闆的(de)內(nèi)部電(diàn)路(lù)，在X射線發生(shēng)器(qì)對(duì)面有(yǒu)個(gè)數(shù)據接收器(qì)，自(zì)動≠的(de)将接收到(dào)的(de)輻射轉換成電(diàn)信号并傳到(dào)擴張闆中，并在電(diàn)腦(nǎo)中轉換成特定的(de)信号，通(tōng)過的(de)軟件(jiàn)将♠圖像在顯示器(qì)中顯示出來(lái)，這(zhè)樣就(jiù)可(kě)以通(tōng)過肉眼觀測到(dào)基闆γ的(de)內(nèi)部結構，而不(bù)用(yòng)拿(ná)萬用(yòng)表去(qù)慢(màn)慢(màn)測試。
X射線檢測有(yǒu)很(hěn)強的(de)穿透性，X射線探傷就(jiù)是(shì)利用(yòng)射線得(de)穿透性和(hé)直線性來(lái)探傷的(de)方法。射線雖然不(bù )會(huì)像可(kě)見(jiàn)光(guāng)那(nà)樣憑肉眼就(jiù)能(néng)直接察知(zhī)，但(dàn)它•可(kě)使照(zhào)相(xiàng)底片感光(guāng)，也(yě)可(kě)用(yòng)特殊的(d÷e)接收器(qì)來(lái)接收。當射線穿過(照(zhào)射)物(wù)質時(shí)，該物(wù)質的(de)密度越大(dà)，射線強度減弱得(de)越多(duō)，即射線能(n¶éng)穿透過該物(wù)質的(de)強度就(jiù)越小(xiǎo)。
此時(shí)，若用(yòng)照(zhào)相(xiàng)底片接收，則底片的(de)感光(guāng)量α就(jiù)小(xiǎo);若用(yòng)儀器(qì)來(lái)接收，獲得(de)的(de)信号就(jiù)弱。因此，用(yòng)射線來(lái)照(zhào)射待探傷的(de)零部件(jiàn)時(shí)，若其內(nèi)部有(yǒu)氣孔、夾渣等缺陷，射線穿過有(yǒu)缺陷的(de)路(lù)徑比沒有(yǒu)缺陷↓的(de)路(lù)徑所透過的(de)物(wù)質密度要(yào)小(xiǎo)得(de)多(duō)，其強度就(jiù)減弱得(de★)少(shǎo)些(xiē)，即透過的(de)強度就(jiù)大(dà)些(xiē)，若用(yòng)底片接收，則感光(guāng)量就(jiù)大(dà)些(xiē)，就(jiù)可(kě)以從(cóng)底片上(shàng)反映出缺陷垂直于射線方向的(de)平面投影(yǐng);若用(yòng)其它接收器(qì)也(yě₩)同樣可(kě)以用(yòng)儀表來(lái)反映缺陷垂直于射線方向的(de)平面投影(yǐng)和(hé)射線的(de)透過量。一(yī)般情況下(xi™à)，射線探傷是(shì)不(bù)易發現(xiàn)裂紋的(de)，或者說(shuō)，射線探傷對(duì)裂紋是(shì)不(bù)敏感的(de)。
因此，X射線檢測探傷儀對(duì)氣孔、夾渣、未焊透等體(tǐ)積型缺陷敏感。即射線探傷适宜用(yòng)于體(tǐ)積型缺陷探傷，而不(bù)适宜面積型缺陷探傷。
