工(gōng)業(yè)X射線是(shì)如(rú)何工(gōng)作(zuò)的(de)？

工(gōng)業(yè)X射線是(shì)如(rú)何工(gōng)作(zuò)的(de)？

從(cóng)微(wēi)小(xiǎo)的(de)機(jī)電(diàn)零件(jiàn)到(dào)大(dà)型飛(fēi)機(jī)發動機(jī)₩，Analysis（安賽斯） X 射線技(jì)術(shù)廣泛用(yòng)于在不(bù)破壞零件(jiàn)的(de)情況下(xià)可(kě)視(‍shì)化(huà)其內(nèi)部結構的(de)應用(yòng)中。

工(gōng)業(yè)X射線可(kě)用(yòng)于

·        檢驗

·        質量保證和(hé)材料分(fēn)析

·        失效分(fēn)析，如(rú)缺陷、孔隙、裂紋、夾雜(zá)物(wù)等

·        裝配檢查

·        內(nèi)外(wài)結構測量

·        樣品檢驗、小(xiǎo)批量生(shēng)産和(hé) 全檢

·        過程控制(zhì)

保持産品質量可(kě)控

質量保證是(shì)維持業(yè)務良性增長(cháng)的(de)關鍵。X 射線技(jì)術(shù)用(yòng)于無損檢測 (NDT) 可(kě)幫助制(zhì)造商确保産品質量、可(kě)靠性和(hé)安全性，避免産品召回、生(shēng)産停滞或停機(jī)。利用(yòng) Analysis（安賽斯） 系統，用(yòng)戶可(kě)以非常方便、快(kuài)速、經濟地(dì)開(kāi)展 X 射線檢測工(gōng)作(zuò)。

快(kuài)速、高(gāo)效地(dì)檢查幾乎所有(yǒu)尺寸的(de)部件(jiàn)

從(cóng)半導體(tǐ)行(xíng)業(yè)的(de)微(wēi)米級器(qì)件(jiàn)，到(dào)完整的(de)汽車(chē)發動機(jī)，Analysis（安賽斯） 工(gōng)業(yè) X 射線系統可(kě)檢查的(de)物(wù)體(tǐ)範圍非常廣泛。

強大(dà)工(gōng)具看(kàn)透高(gāo)密度材料

由于生(shēng)産所用(yòng)的(de)大(dà)多(duō)數(shù)材料的(de)輻射吸收密度遠(yuǎn)高(gāo)于有(yǒu)機(jī)組織，工(gōng)±業(yè) X 射線的(de)工(gōng)作(zuò)能(néng)量明(míng)顯強于醫(yī)學成像 X 射線。Analysis（安賽斯） 無損檢測系統涵蓋了(le) 20 kV 至 600 kV 能(néng)量範圍。

工(gōng)業(yè)X射線是(shì)如(rú)何工(gōng)作(zuò)的(de)?

除檢測物(wù)體(tǐ)外(wài)，現(xiàn)代工(gōng)業(yè) X 射線還(hái)必須配有(yǒu) X 射線源和(hé) X 射線探測器(qì)。X 射線源從(cóng)焦點向管頭錐體(tǐ)內(nèi)發射射線，并穿過物(wù)體(tǐ)。随後射線被類似于超大(dà)尺寸相(xiàng)機(jī)傳感器(qì)的(de)一(yī)維線陣列探♠測器(qì) (LDA) 或二維平闆探測器(qì)（數(shù)字陣列探測器(qì)，DDA）接收。

合适的(de)焦點: 小(xiǎo)焦點，微(wēi)小(xiǎo)焦點，微(wēi)焦點和(hé)納焦點

根據不(bù)同 X 射線源的(de)焦點大(dà)小(xiǎo)，可(kě)分(fēn)别稱為(wèi)Mini-focus小(xiǎo)焦點、Meso-focus微(wēi)小(xiǎo)焦點、Micro-focus微(wēi)焦點和(hé)Nano-focus納焦點。現(xiàn)代化(huà)設計(jì) Analysis（安賽斯） 系統具有(yǒu)高(gāo) X 射線源劑量率和(hé)高(gāo)效探測器(qì)，可(kě)實現(xiàn)與視(shì)頻(pín)相(xiàng)當的(de)超高(gāo)速成像。

合作(zuò)創新: CTScan 3

與客戶的(de)密切交流及敏銳的(de)市(shì)場(chǎng)發展洞察力是(shì) Analysis（安賽斯） 創新背後的(de)驅動引擎。例如(rú)：為(wèi)響應處理(lǐ)散射 X 射線的(de)探測器(qì)需求——在檢查緻密材料的(de)高(gāo)能(néng)應用(yòng)中會(huì)出現(xiàn)這(zhè)類射線—— Analysis（安賽斯） 開(kāi)發了(le) CTScan 3 這(zhè)一(yī)分(fēn)辨率和(hé)穩定性非凡的(de)線陣列探測器(qì) (LDA)  。

行(xíng)業(yè)的(de)全新探測器(qì)産品

Analysis（安賽斯） 與數(shù)字平闆探測器(qì)制(zhì)造商長(cháng)期合作(zuò)，因而可(kě)先行(xíng)測試新産品，并将全新探測器(qì)集成到(dào)我們的∞(de)X射線系統系列中。

Geminy: 強大(dà)的(de)CT技(jì)術(shù)和(hé)圖像增強軟件(jiàn)

作(zuò)為(wèi)所有(yǒu)工(gōng)作(zuò)流程的(de)統一(yī)用(yòng)戶界面，Analysis（安賽斯） 的(de) Geminy軟件(jiàn)運用(yòng)自(zì)動化(huà)、向導和(hé)預設功能(néng)引導用(yòng)戶順利完成檢測流程。此外(&wài)，該軟件(jiàn)搭載的(de)強大(dà)CT技(jì)術(shù)還(hái)有(yǒu)助于優化(huà)零件(jiàn)尺寸範圍、速度和(hé)圖像質量。軟件(jiàn)濾波器(qì)可(kě)減少(shǎo)甚≈至消除常見(jiàn)僞影(yǐng)，确保可(kě)靠的(de)檢測結果和(hé)高(gāo)質量數(shù)據。¶

準直器(qì)減少(shǎo)散射輻射

為(wèi)可(kě)靠檢測細微(wēi)的(de)細節和(hé)潛在缺陷，需要(yào)分(fēn)辨率的(de)明(míng)亮(liàng)、高(gāo)對(du$ì)比度圖像。直接位于輻射源出射窗(chuāng)前端的(de)孔徑（準直器(qì)）可(kě)以在掃描期間(jiān)聚束射線，減少(shǎ→o)幹擾性散射輻射——尤其是(shì)在使用(yòng)扇形束 CT 時(shí)。

超越經典X射線和(hé)CT: 計(jì)算(suàn)機(jī)層析成像

計(jì)算(suàn)機(jī)層析成像用(yòng)于無法在 X 射線系統中旋轉的(de)平面組件(jiàn)（如(rú)機(jī)艙門(mén)）或平面微(wēi)處理(lǐ)芯片，此時(shí)層析成像的(de)速度遠(y uǎn)勝于 CT。

超越經典X射線和(hé)CT: 計(jì)算(suàn)機(jī)層析成像

計(jì)算(suàn)機(jī)層析成像用(yòng)于無法在 X 射線系統中旋轉的(de)平面組件(jiàn)（如(rú)機(jī)艙門(mén)）或平面微(wēi)處理(lǐ)芯片，此時(shí)層析成像的(de)速度遠(yuǎn)勝于 CT。