安賽斯多(duō)用(yòng)途高(gāo)分(fēn)辨工(gōng)業(yè)CT系統

安賽斯FF35 CT多(duō)用(yòng)途高(gāo)分(fēn)辨工(gōng)業(yè)CT系統

産品名稱: 安賽斯FF35 CT多(duō)用(yòng)途高(gāo)分(fēn)辨工(gōng)業(yè)CT系統

産品型号：FF35 CT

應用(yòng)行(xíng)業(yè): 汽車(chē)制(zhì)造, 微(wēi)電(diàn)子(zǐ), 航空(kōng)航天, 科(kē)研開(kāi)發, 鑄造, 半導體(tǐ), 增材制(zhì)造

缺陷尺寸: <1µm 缺陷, <50µm 缺陷, <1mm 缺陷, >1mm 缺陷

樣品尺寸: 小(xiǎo)型, 中型, 大(dà)型

運行(xíng)模式: 3D, 2D/3D, 計(jì)量

FF35 CT 亮(liàng)點

• 單或雙射線管配置，可(kě)最大(dà)限度提高(gāo)實驗室微(wēi)焦點CT應用(yòng)多(duō)功能(néng)性

• 隻需輕觸一(yī)個(gè)按鈕，即可(kě)在數(shù)秒(miǎo)內(nèi)在 225 kV Micro-focus管和(hé)190 kV Nano-focus管之間(jiān)自(zì)如(rú)切換

• 花(huā)崗岩底座操控和(hé)溫控，确保精确的(de)結果

• 通(tōng)過Geminy軟件(jiàn)平台進行(xíng)各種CT軌迹和(hé)視(shì)場(chǎng) (FoV) 擴展，應用(yòng)靈活

• 可(kě)選計(jì)量版本，測量精度可(kě)達 MPE_SD = 5.9 µm + L/75 [L in mm]

• 提供符合半導體(tǐ)市(shì)場(chǎng)标準的(de) FF35 CT SEMI 版本

• 新産品！最大(dà)樣品重量可(kě)達 50 千克 - 也(yě)可(kě)提供升級服務

  
  

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可(kě)靈活檢測中小(xiǎo)型零件(jiàn)

Analysis FF35 CT、FF35 CT Metrology和(hé)FF35 CT SEMI 涵蓋了(le)非凡的(de)應用(yòng)範圍。豐富的(de)功能(néng)涵蓋了(le)研發部門(mén)的(de)改​良材料測試、過程控制(zhì)和(hé)小(xiǎo)批量檢驗的(de)優化(huà)，以及各種科(kē)學應用(yòng)。雙X射線管配置幫助高(gāo)分(fēn)辨率CT系統大(dà)幅擴展汽車(chē)、電(diàn)子(zǐ)、航空(kōng)和(hé)材料科(kē)學行(xíng)業(yè)的(de)質量保證和(hé)研究的(de)應用(yòn→g)空(kōng)間(jiān)。

成熟驗證技(jì)術(shù): 225 kV 折射式微(wēi)焦點射線管

225 kV Analysis 折射式微(wēi)焦點射線管具有(yǒu) 320 W 高(gāo)功率和(hé)水(shuǐ)冷(lěng)靶材，可(kě)在不(bù)到(dào)一(yī)分(fēn)鐘(zhōng)的(de)時(shí)間(jαiān)內(nèi)完成快(kuài)速 CT 掃描。2D 檢測時(shí)，射束管空(kōng)間(jiān)分(fēn)辨率為(wèi) 4 μm。可(kě)在單個(gè)檢測序列內(nèi)自(zì)如(rú)切換折射式微(wēi)焦點射線管和(hé)納<焦點透射管，大(dà)幅擴展應用(yòng)範圍。

額外(wài)選配: 190 kV 納焦點透射管

對(duì)于10 mm 或更小(xiǎo)尺寸的(de)零件(jiàn)，分(fēn)辨率在亞微(wēi)米範圍內(nèi)的(de) 190 kV 納焦點透射管是(shì)理(lǐ)想的(de)解決方案，有(yǒu)助于高(gāo)分(fēn)辨率檢查各種樣本：雖然其水(shu§ǐ)冷(lěng)式放(fàng)射管頭可(kě)實現(xiàn)快(kuài)速溫度調節并具有(yǒu)焦點穩定性，但(dàn)可(kě)通(tōng)過四種模‍式基于功率進行(xíng)相(xiàng)應的(de)焦點尺寸适配調整。由于兩根射線管均自(zì)備發↕生(shēng)器(qì)和(hé)高(gāo)壓電(diàn)纜，因此無需重新配置即可(kě)輕松切換。

各種軌迹最大(dà)限度提高(gāo)靈活性

Geminy直觀的(de)用(yòng)戶界面上(shàng)顯示的(de)圖形符号和(hé)廣泛的(de)自(zì)動化(huà)功能(néng)，操作(zuò↔)簡便，不(bù)受操作(zuò)員(yuán)技(jì)能(néng)水(shuǐ)平限制(zhì)。同時(shí)，該軟件(jiàn)還(hái)随附了(le)豐富的(de¥)功能(néng)，可(kě)靈活應對(duì)各類零件(jiàn)尺寸和(hé)檢查任務，包括 HeliExtend（螺旋CT掃描和(hé)重建方法）等CT軌迹、水(shuǐ)平和(hé)垂直視(shì)場(chǎng)擴展、虛拟旋轉軸和(hé)标準QuickScan/QualityScan。

 FF35 CT可(kě)檢測哪些(xiē)物(wù)體(tǐ)?

• 電(diàn)子(zǐ)器(qì)件(jiàn)，包括SMD

• 涉及新材料或新制(zhì)造方法的(de)産品，如(rú)增材制(zhì)造零件(jiàn)、纖維增強塑料

• 電(diàn)池電(diàn)芯和(hé)模組

• 注塑成型塑料

• 微(wēi)系統 (MEMS, MOEMS)

• 醫(yī)療用(yòng)品，例如(rú)插管

• 輕合金(jīn)鑄件(jiàn)

• 地(dì)質、古生(shēng)物(wù)和(hé)生(shēng)物(wù)樣本

  
  

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FF35 CT 用(yòng)于哪些(xiē)應用(yòng)?

• 質量保證、材料分(fēn)析和(hé)研究

• 失效與結構分(fēn)析

• 裝配檢查

• 小(xiǎo)批量生(shēng)産檢驗

• 過程控制(zhì)

• 數(shù)字化(huà)

• 無損剖切

  
  

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FF35 CT SEMI: 專為(wèi)半導體(tǐ)領域應用(yòng)研發

Analysis FF35 CT SEMI X射線系統是(shì)一(yī)種創新的(de)多(duō)功能(néng)高(gāo)分(fēn)辨率 CT 系統，用(yòng)于研發和(hé)質量保證領域。這(zhè)套系統專為(wèi)半導體(tǐ)相(xiàng)關行(x↓íng)業(yè)檢驗應用(yòng)開(kāi)發。FF35 CT SEMI 符合 SEMI® 的(de)嚴苛标準（包括 SEMI® S2-0818 和(hé) SEMI® S8-0218 危險和(hé)安全标準）并通(tōng)過了(le)相(xiàng)應的(de)認證。

使用(yòng)FF35 CT Metrology測量超精細內(nèi)部結構

Analysis FF35 CT Metrology将CT尺寸控制(zhì)（例如(rú)超精細內(nèi)部結構測量）的(de)精确度提升至全新維度。一(yī)次 CT 掃描近(jìn)乎捕獲幾乎無限的(de)測量點，不(bù)受測量評估結果影(yǐng)響。無縫缺陷分(fēn)析和(hé)名義值-實際值比較，節省時(shí)間(jiān)并減少(shǎo)産品抽樣校(xiào)正循環相(xiàng)關的(de)校(xiào)正成本。FF35 CT Metrology符合VDI/VDE 2630 标準。

FF35 CT關鍵技(jì)術(shù)參數(shù)：

名稱: 高(gāo)分(fēn)辨率微(wēi)焦點CT系統 FF35 CT

關鍵詞：FF35 CT，X射線檢測，微(wēi)焦點X光(guāng)機(jī)，無損檢測，射線檢測