當前位置:首頁 >産品中心>無損檢測系統>工(gōng)業(yè)水(shuǐ)浸超聲C掃描系統>UPK-T24 UPK-T36 UPK-T48實驗室型水(shuǐ)浸式超聲C掃描系統
簡要(yào)描述:實驗室型水(shuǐ)浸式超聲C掃描系統主要(yào)用(yòng)于高(gāo)分(fēn)子(zǐ)材料、飛(fēi)機(jī)用(yòng)纖維複合材料、構件(jiàn₽)等的(de)內(nèi)部分(fēn)層、脫粘、夾雜(zá)、空(kōng)洞、孔洞等缺陷的(de)無損檢測和(hé)評價。可(kě)用(yò←ng)于實驗室研究,又(yòu)可(kě)用(yòng)于生(shēng)産過程的(de)質量檢驗及零部件♠(jiàn)探傷。
産品分(fēn)類
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關鍵詞:水(shuǐ)浸超聲C掃描系統,超聲檢測,水(shuǐ)浸超聲,無損檢測,複合材料檢測
關鍵詞:水(shuǐ)浸超聲C掃描系統,超聲檢測,水(shuǐ)浸超聲,無損檢測,複合材料檢測
實驗室型水(shuǐ)浸式超聲C掃描系統
産品簡介:
名稱:實驗室型水(shuǐ)浸式超聲C掃描系統
型号:UPK-T24,UPK-T36,UPK-T48,UPK-T60,UPK-T72等。
産地(dì):美(měi)國(guó)
應用(yòng):主要(yào)用(yòng)于高(gāo)分(fēn)子(zǐ)材料、飛(fēi)機(jī)用(yò∞ng)纖維複合材料、構件(jiàn)等的(de)內(nèi)部分(fēn)層、脫粘、夾雜(zá)、空(kōng)洞、<孔洞等缺陷的(de)無損檢測和(hé)評價。可(kě)用(yòng)于實驗室研究,又(yòu)可(kě)用(yòng)于生(shēng)産過程的(de)質量檢驗>及零部件(jiàn)探傷。
産品介紹:
水(shuǐ)浸超聲C掃描系統的(de)檢測原理(lǐ)是(shì):将超聲探頭和(hé)試件(jiàn)全部或部分(fēn)浸于水(shuǐ)中,以水(shuǐ)作(zuò)為(wè→i)耦合劑,超聲波通(tōng)過水(shuǐ)進入試件(jiàn)進行(xíng)檢測的(de)技(jì)術(shù)。安賽斯水(shuǐ)浸超聲C掃描系統,是(sh≤ì)新一(yī)代數(shù)字化(huà)、模塊化(huà)、PCIE總線結構的(de)超聲探傷及A/B/C掃描成像系統。具有(yǒu)高(gāo)速δ、高(gāo)精度、高(gāo)清晰圖像分(fēn)辨率及大(dà)頻(pín)寬等特性。 主要(yào)用(yòng)于高(gāo±)分(fēn)子(zǐ)材料、飛(fēi)機(jī)用(yòng)纖維複合材料、構件(jiàn)等的(de)內(nèi)部分(fēn)層、脫粘、夾雜(zá)、空(kōngδ)洞、孔洞等缺陷的(de)無損檢測和(hé)評價。可(kě)用(yòng)于實驗室研究,又(yòu)可(kě)用(yòng)于生(shēng)♦産過程的(de)質量檢驗及零部件(jiàn)探傷。
産品特點:
l 核心闆卡采用(yòng)PCIE總線結構的(de)超聲信号激發與AD模數(shù)轉換卡一(yī)體(tǐ)卡,具有(yǒu)∏高(gāo)精度、高(gāo)性能(néng),可(kě)達32MHz帶寬,14位精度,250M采樣率。
l 具有(yǒu)位置編碼器(qì)的(de)多(duō)軸(4-8軸)運動控制(zhì)及功率放(fàng)大(dà→)器(qì)。
l 由高(gāo)性能(néng)數(shù)控電(diàn)機(jī)驅動的(de)多(duō)軸、多(duō)自(zì)由度、高(gāo)速(可(kě)達500mm/s)、高(gāo)精度(可(kě)達0.05mm位置精度)水(shuǐ)槽或桁架式掃查系統。
l  δ; 便攜式或工(gōng)業(yè)計(jì)算(suàn)機(jī)系統及功能(néng)齊全的(de)集多(duō)維輪廓與曲面跟蹤掃查、探傷、分(fēn)析、成像 及評估于一(yī)體(tǐ)的(de)窗(chuāng)式軟件(jiàn)。
球體(tǐ)曲面跟蹤水(shuǐ)浸超聲檢測
UTwin多(duō)窗(chuāng)口一(yī)體(tǐ)化(huà)掃查軟件(jiàn)
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