當前位置:首頁 >産品中心>無損檢測系統>光(guāng)彈系數(shù)測試儀>ANA6000P-V立式光(guāng)彈測試儀
簡要(yào)描述:立式光(guāng)彈測試儀:光(guāng)彈系數(shù)測試儀(ANA6000P-V)是(shì)應用(yòng)偏振光(guā☆ng)幹涉原理(lǐ)對(duì)應力作(zuò)用(yòng)下(xià)能(néng)産生(shēng)人(rén)工(gōng)雙折∑射材料做(zuò)成的(de)力學構件(jiàn)模型進行(xíng)實驗應力測試的(de)儀器(qì),簡稱光(₹guāng)彈儀。應用(yòng)它可(kě)以測試 SiC晶圓、手機(jī)膜、顯示屏、石英玻璃等器(qì)♠件(jiàn)內(nèi)部的(de)應力雙折射/殘餘應力,以圖像形式直觀觀察被測件(jiàn)的(de)應≠力分(fēn)布和(hé)應力集中情況。
産品分(fēn)類
Product Category相(xiàng)關文(wén)章(zhāng)
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産品簡介:
産品名稱:立式光(guāng)彈測試儀
型 号:ANA6000P-V
應 用(yòng):測試 SiC晶圓、手機(jī)膜、顯示屏、石英玻璃等器(qì)件(jiàn)內(nèi)部的(de)應力雙折射/殘餘應力,以圖像形式直觀觀察被測件(jiàn)的(de)應力分(fēn)布和(hé)應力集中情況。
安賽斯立式光(guāng)彈測試儀:光(guāng)彈系數(shù)測試儀(ANA6000P-V)是(shì)應用(yòng)偏振光(guāng)幹涉原理(lǐ)對(duì)應力作(zuò)用(yòng)下(xià)能(néng)産生( shēng)人(rén)工(gōng)雙折射材料做(zuò)成的(de)力學構件(jiàn)模型進行(xíng)實α驗應力測試的(de)儀器(qì),簡稱光(guāng)彈儀。應用(yòng)它可(kě)以測試 SiC晶圓、手機(jī)膜、顯示屏、石英玻璃等器(qì)件(jiàn)內(nèi)部的(de)應力雙折射/殘餘應力,以圖像形式直觀觀察被測件(jiàn)的(de)應力分(fēn)布和(hé)應力集中情況。
立式光(guāng)彈測試儀主要(yào)技(jì)術(shù)參數(shù):
1. 測試面積(即光(guāng)源尺寸)
标準尺寸為(wèi)300 mm×300mm,其它尺寸可(kě)以定制(zhì),最大(dà)600mm×500mm;
2. 相(xiàng)機(jī)參數(shù)
2248*2048原始分(fēn)辨率,輸出4幅1224*1024的(de)偏振圖像。幀率36或79。
3. 應力雙折射量程
基本型: 量程為(wèi)工(gōng)作(zuò)波長(cháng)的(de)1/4(以紅(hóng)光(guāng)為(wèi)例,量程即157.5nm);
增強型:2296nm。需要(yào)采用(yòng)藍(lán)、綠(lǜ)兩種顔色的(de)光(guāng)源進行(xíng)測試,并進δ行(xíng)相(xiàng)位解包裹處理(lǐ);
3. 測試分(fēn)辨率與精度
以 0.8mm 厚的(de)鈣鈉玻璃為(wèi)例:應力測試的(de)分(fēn)辨率為(wèi) 0.2MPa:應力測試的(de)精度:1.0MPa。
應力雙折射的(de)測試分(fēn)辨率:0.1nm, 精度:1.0nm;
産品特色:
與傳統/常規的(de)光(guāng)彈儀相(xiàng)比,本立式光(guāng)彈測試儀具有(yǒu)如(rú)下(xià)特點:
1. 結構簡單
主要(yào)部件(jiàn)包括:偏振光(guāng)源、傾斜平台(用(yòng)于晶體(tǐ)試件(jiàn)測試)、濾光(guāng)片轉輪、像素偏振相(xiàng)機(jī)±、高(gāo)配筆(bǐ)記本電(diàn)腦(nǎo)(內(nèi)存 16G 以上(shàng))及處理(lǐ)軟件(jiàn),不(bù)含任何可(kě)旋轉的(de)光(guāng)學偏振器(qì)件(jiàn)。
2. 操作(zuò)簡單,可(kě)以實現(xiàn)快(kuài)速甚至實時(shí)測試
隻需一(yī)次拍(pāi)照(zhào)即可(kě)同時(shí)獲取試件(jiàn)的(de)相(xiàng)位差場(chǎng)和(hé)主應♠力方向場(chǎng),避免了(le)傳統方法在定量測試時(shí)的(de)複雜(zá)操作(zuò),且在平面應力的(de)條件(jiàn)下(xià)可(kΩě)以分(fēn)離(lí)出各應力分(fēn)量;
3. 靈敏度高(gāo)且不(bù)受環境光(guāng)的(de)幹擾
測試靈敏度是(shì)傳統光(guāng)彈法/設備的(de)兩倍(物(wù)理(lǐ)靈敏度),且無論相(xiàng)位差多(duō)小(xiǎo),都(dōu)可(kě)以用(yòng)最大(dà)的(de)灰度梯度圖像表示(顯示靈敏度高(gσāo));由于采用(yòng)不(bù)同偏振圖像之間(jiān)的(de)相(xiàng)減運算(suàn),使得(de)測試幾乎不(bù)受≠環境光(guāng)的(de)幹擾。
4. 多(duō)種測試波長(cháng)可(kě)選并快(kuài)速切換
切換方式包括RGB 三色 LED 光(guāng)源(中心波長(cháng)分(fēn)别為(wèi):625nm、525nm 和(hé) 465nm)的(de)切換以白(bái)光(guāng)光(guāng)源下(xià)不(bù)同的(de)窄帶濾光(guāng)片→的(de)輪換。
5. 可(kě)以根據客戶要(yào)求定制(zhì)産品
在某些(xiē)特殊情況下(xià),客戶需要(yào)用(yòng)自(zì)己的(de)相(xiàng)機(jī)和(hé)光(guāng)源,我們可(kě)以根據需要(yào)對(duì)産↕品進行(xíng)定制(zhì),滿足客戶的(de)需要(yào)。
安賽斯光(guāng)彈儀工(gōng)作(zuò)原理(lǐ)
設:圓盤試件(jiàn)(直徑D, 厚度d)受對(duì)徑壓縮載荷 F 的(de)作(zuò)用(yòng),試件(jiàn)中心點O 的(de)主應力分(fēn)别是(shì):
根據應力-光(guāng)學定律,應力雙折射材料的(de)主應力差與相(xiàng)位差(ϕ)的(de)關系如(rú)下(xià):
其中C 為(wèi)待求的(de)光(guāng)彈系數(shù),λ 為(wèi)測試光(guāng)的(de)波長(cháng)。
将(1)(2)關聯起來(lái),有(yǒu):
通(tōng)過光(guāng)彈實驗确定圓形試件(jiàn)中心點的(de)位相(xiàng)差ϕ,即可(kě)得(de)到(dào)光(guāng)彈系數(shù)。
實驗示意及應用(yòng)範圍:
立式光(guāng)彈儀 :利用(yòng)應力雙折射性質,在工(gōng)程上(shàng)可(kě)以制(zhì)成各種機(jī)械零件(jiàn)的(de)透明(míng)塑料模✘型,然後模拟零件(jiàn)的(de)受力情況,觀察、分(fēn)析偏振光(guāng)幹涉的(de)色彩和(hé)條紋分(fēn)布,從(cóng)而判斷零件(jiàn)內(nèi)部的(d✘e)應力分(fēn)布。
應力雙折射信息
圓盤徑向受壓實驗:
U型塊壓彎組合實驗:
光(guāng)彈性方法直觀,能(néng)直接顯示應力集中區(qū)域,并準确給出應力集中部分(fēn)的(de)量值;它不(bù)但(dàn)可(kě)以得(de)到(dào)便捷應力而且能(néng✔)夠求的(de)結構的(de)內(nèi)部應力。特别是(shì)這(zhè)一(yī)方法不(bù)受形狀和(hé)載荷的(de)限制(zhì),可(kě)以對(duì)工(gōn≠g)程複雜(zá)結構進行(xíng)應力分(fēn)析。
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