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當前位置:首頁 >産品中心>無損檢測系統>光(guāng)彈系數(shù)測試儀>ANA6000P-V立式光(guāng)彈測試儀

立式光(guāng)彈測試儀

簡要(yào)描述:立式光(guāng)彈測試儀:光(guāng)彈系數(shù)測試儀(ANA6000P-V)是(shì)應用(yòng)偏振光(guā☆ng)幹涉原理(lǐ)對(duì)應力作(zuò)用(yòng)下(xià)能(néng)産生(shēng)人(rén)工(gōng)雙折∑射材料做(zuò)成的(de)力學構件(jiàn)模型進行(xíng)實驗應力測試的(de)儀器(qì),簡稱光(₹guāng)彈儀。應用(yòng)它可(kě)以測試 SiC晶圓、手機(jī)膜、顯示屏、石英玻璃等器(qì)♠件(jiàn)內(nèi)部的(de)應力雙折射/殘餘應力,以圖像形式直觀觀察被測件(jiàn)的(de)應≠力分(fēn)布和(hé)應力集中情況。

  • 産品型号:ANA6000P-V
  • 廠(chǎng)商性質:生(shēng)産廠(chǎng)家(jiā)
  • 更新時(shí)間(jiān):2024-03-14
  • 訪  問(wèn)  量:5561

詳細介紹

産品簡介:

産品名稱:立式光(guāng)彈測試儀

  号:ANA6000P-V

  用(yòng):測試 SiC晶圓、手機(jī)膜、顯示屏、石英玻璃等器(qì)件(jiàn)內(nèi)部的(de)應力雙折射/殘餘應力,以圖像形式直觀觀察被測件(jiàn)的(de)應力分(fēn)布和(hé)應力集中情況。

安賽斯立式光(guāng)彈測試儀:光(guāng)彈系數(shù)測試儀(ANA6000P-V)是(shì)應用(yòng)偏振光(guāng)幹涉原理(lǐ)對(duì)應力作(zuò)用(yòng)下(xià)能(néng)産生( shēng)人(rén)工(gōng)雙折射材料做(zuò)成的(de)力學構件(jiàn)模型進行(xíng)實α驗應力測試的(de)儀器(qì),簡稱光(guāng)彈儀。應用(yòng)它可(kě)以測試 SiC晶圓、手機(jī)膜、顯示屏、石英玻璃等器(qì)件(jiàn)內(nèi)部的(de)應力雙折射/殘餘應力,以圖像形式直觀觀察被測件(jiàn)的(de)應力分(fēn)布和(hé)應力集中情況。

立式光(guāng)彈測試儀主要(yào)技(jì)術(shù)參數(shù):

1.       測試面積(即光(guāng)源尺寸)

标準尺寸為(wèi)300 mm×300mm,其它尺寸可(kě)以定制(zhì),最大(dà)600mm×500mm

2.       相(xiàng)機(jī)參數(shù)

2248*2048原始分(fēn)辨率,輸出41224*1024的(de)偏振圖像。幀率3679

3.       應力雙折射量程

基本型: 量程為(wèi)工(gōng)作(zuò)波長(cháng)的(de)1/4(以紅(hóng)光(guāng)為(wèi)例,量程即157.5nm);

增強型:2296nm。需要(yào)采用(yòng)藍(lán)、綠(lǜ)兩種顔色的(de)光(guāng)源進行(xíng)測試,并進δ行(xíng)相(xiàng)位解包裹處理(lǐ);

 3.  測試分(fēn)辨率與精度

0.8mm 厚的(de)鈣鈉玻璃為(wèi)例:應力測試的(de)分(fēn)辨率為(wèi) 0.2MPa:應力測試的(de)精度:1.0MPa

應力雙折射的(de)測試分(fēn)辨率:0.1nm, 精度:1.0nm

産品特色:

與傳統/常規的(de)光(guāng)彈儀相(xiàng)比,本立式光(guāng)彈測試儀具有(yǒu)如(rú)下(xià)特點:

1.     結構簡單

主要(yào)部件(jiàn)包括:偏振光(guāng)源、傾斜平台(用(yòng)于晶體(tǐ)試件(jiàn)測試)、濾光(guāng)片轉輪、像素偏振相(xiàng)機(jī)±、高(gāo)配筆(bǐ)記本電(diàn)腦(nǎo)(內(nèi)存 16G 以上(shàng))及處理(lǐ)軟件(jiàn),不(bù)含任何可(kě)旋轉的(de)光(guāng)學偏振器(qì)件(jiàn)。

2.     操作(zuò)簡單,可(kě)以實現(xiàn)快(kuài)速甚至實時(shí)測試

隻需一(yī)次拍(pāi)照(zhào)即可(kě)同時(shí)獲取試件(jiàn)的(de)相(xiàng)位差場(chǎng)和(hé)主應♠力方向場(chǎng),避免了(le)傳統方法在定量測試時(shí)的(de)複雜(zá)操作(zuò),且在平面應力的(de)條件(jiàn)下(xià)可(kΩě)以分(fēn)離(lí)出各應力分(fēn)量;

3.     靈敏度高(gāo)且不(bù)受環境光(guāng)的(de)幹擾

測試靈敏度是(shì)傳統光(guāng)彈法/設備的(de)兩倍(物(wù)理(lǐ)靈敏度),且無論相(xiàng)位差多(duō)小(xiǎo),都(dōu)可(kě)以用(yòng)最大(dà)的(de)灰度梯度圖像表示(顯示靈敏度高(gσāo));由于采用(yòng)不(bù)同偏振圖像之間(jiān)的(de)相(xiàng)減運算(suàn),使得(de)測試幾乎不(bù)受≠環境光(guāng)的(de)幹擾。

4.     多(duō)種測試波長(cháng)可(kě)選并快(kuài)速切換

切換方式包括RGB 三色 LED 光(guāng)源(中心波長(cháng)分(fēn)别為(wèi):625nm525nm 和(hé) 465nm)的(de)切換以白(bái)光(guāng)光(guāng)源下(xià)不(bù)同的(de)窄帶濾光(guāng)片→的(de)輪換。

5.     可(kě)以根據客戶要(yào)求定制(zhì)産品

在某些(xiē)特殊情況下(xià),客戶需要(yào)用(yòng)自(zì)己的(de)相(xiàng)機(jī)和(hé)光(guāng)源,我們可(kě)以根據需要(yào)對(duì)産↕品進行(xíng)定制(zhì),滿足客戶的(de)需要(yào)。

安賽斯光(guāng)彈儀工(gōng)作(zuò)原理(lǐ)

設:圓盤試件(jiàn)(直徑D, 厚度d)受對(duì)徑壓縮載荷 F 的(de)作(zuò)用(yòng),試件(jiàn)中心點O 的(de)主應力分(fēn)别是(shì):

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根據應力-光(guāng)學定律,應力雙折射材料的(de)主應力差與相(xiàng)位差(ϕ)的(de)關系如(rú)下(xià):

    1701418521454.png


其中C 為(wèi)待求的(de)光(guāng)彈系數(shù),λ 為(wèi)測試光(guāng)的(de)波長(cháng)。

将(1)(2)關聯起來(lái),有(yǒu):

1701418548206.png


通(tōng)過光(guāng)彈實驗确定圓形試件(jiàn)中心點的(de)位相(xiàng)差ϕ,即可(kě)得(de)到(dào)光(guāng)彈系數(shù)。


1701418577022.png

1701418597380.png


實驗示意及應用(yòng)範圍:

  立式光(guāng)彈儀利用(yòng)應力雙折射性質,在工(gōng)程上(shàng)可(kě)以制(zhì)成各種機(jī)械零件(jiàn)的(de)透明(míng)塑料模✘型,然後模拟零件(jiàn)的(de)受力情況,觀察、分(fēn)析偏振光(guāng)幹涉的(de)色彩和(hé)條紋分(fēn)布,從(cóng)而判斷零件(jiàn)內(nèi)部的(d✘e)應力分(fēn)布。

1701418632006.png

1701418660735.png


應力雙折射信息


圓盤徑向受壓實驗:


1701418734429.png

U型塊壓彎組合實驗:

1701418782503.png

光(guāng)彈性方法直觀,能(néng)直接顯示應力集中區(qū)域,并準确給出應力集中部分(fēn)的(de)量值;它不(bù)但(dàn)可(kě)以得(de)到(dào)便捷應力而且能(néng✔)夠求的(de)結構的(de)內(nèi)部應力。特别是(shì)這(zhè)一(yī)方法不(bù)受形狀和(hé)載荷的(de)限制(zhì),可(kě)以對(duì)工(gōn≠g)程複雜(zá)結構進行(xíng)應力分(fēn)析。

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